好的，以下是SSAO的近似计算公式：
首先，假设我们有一组从当前像素点出发的采样点集合 $P$，以及与每个采样点对应的深度值 $d_i$ 和法线值 $n_i$。
遮挡因子的近似计算公式是：
$$
AO=\frac{1}{N}\sum_{i=1}^N(1 - SM(d_i, p_i, r))
$$
其中，$N$ 是采样点数目，$SM$ 是计算深度差异的函数，$r$ 是半径值。该公式衡量了当前像素点在所有采样点附近的遮挡程度，遮挡因子越大则表示遮挡的可能性越高。
对于深度差异函数 $SM$，可以使用以下公式：
$$
SM(d_i, p_i, r)=clamp(\frac{(d_i - d(p_i)) - bias}{r},0,1)
$$
其中，$d(p_i)$ 表示采样点 $p_i$ 的深度值，$bias$ 是一个预设的偏移参数，用于控制深度差异的影响强度。该函数将深度差异归一化到 $[0,1]$ 的范围内，然后使用一个阈值函数将其限制在 $[0,1]$ 的范围内。
最终，在计算得到遮挡因子 $AO$ 后，可以在渲染过程中将其应用到场景中的各个物体表面上，增加阴影细节和逼真度。 | 
